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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
進(jìn)口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE可實(shí)現(xiàn)粉末，塊體，薄膜等樣品的測試分析，同時(shí)支持高低溫條件下的原位分析。進(jìn)口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
詳情介紹：
進(jìn)口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE簡介：
ADVANCE是模塊化設(shè)計(jì)的全功能衍射儀，可實(shí)現(xiàn)粉末，塊體，薄膜等樣品的測試分析，同時(shí)支持高低溫條件下的原位分析。
X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！
先進(jìn)的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率， 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。
進(jìn)口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE特點(diǎn)：1、 采用新一代的陶瓷X光管技術(shù)，焦斑位置穩(wěn)定，衰減小，壽命長；而且該光管為標(biāo)準(zhǔn)尺寸，對用戶的限制?。灰?yàn)椴捎玫氖欠忾]靶技術(shù)，后期維護(hù)非常方便；
2、 全自動(dòng)可變狹縫，用戶可以自由選擇固定狹縫大小或固定測量面積模式；
3、 高精度立式測角儀，樣品水平放置，*小步長及角度重復(fù)性皆為0.0001o；測角儀精度保障：國際NIST 剛玉標(biāo)樣用戶現(xiàn)場檢測，保證全譜范圍內(nèi)所有峰的角度偏差不超過±0.01o；
4、 林克斯一維陣列探測器：相對與常規(guī)探測器強(qiáng)度提高150倍以上，靈敏度提高一個(gè)數(shù)量級。
4.1、該探測器共由192個(gè)子探測器陣列組成，在相同條件下，與常規(guī)的閃爍計(jì)數(shù)器（或正比計(jì)數(shù)器）相比，強(qiáng)度增益（或速度增益）高達(dá)150倍以上，同時(shí)具有優(yōu)良的分辨率及信噪比；
4.2、杰出的角度分辨率：基本上等同于采用0.1mm接受狹縫的點(diǎn)探測器的分辨率。在大幅提高強(qiáng)度的同時(shí)，保證了數(shù)據(jù)質(zhì)量；
4.3、良好的低角度測量：LynxEye探測器在充分吸收布魯克20多年的陣列探測器應(yīng)用的基礎(chǔ)上，基本克服了常規(guī)陣列探測器低角度性能欠佳的弱點(diǎn)；
4.4、優(yōu)異的能量分辨率：20％，無需單色器，即可有效去除含鐵樣品的熒光； 4.5、192個(gè)子探測器分別由單獨(dú)電路控制，確保無壞子探測器，可以做靜態(tài)掃描，尤其適合配了高溫原位分析附件的用戶；
4.6、用戶可隨意選擇子探測器開放個(gè)數(shù)，當(dāng)作點(diǎn)探測器使用，免去了點(diǎn)、線探測器互換的麻煩；
4.7、該探測器完全免維護(hù)，使用方便。
5、 分析軟件：好用、功能強(qiáng)，所有參數(shù)調(diào)整采用動(dòng)態(tài)調(diào)整、所見即所得的方式，簡單、快捷。
5.1、EVA檢索軟件
5.2、考慮樣品物理含義的重疊峰分離軟件；
5.3、TOPAS無標(biāo)樣定量分析軟件；
5.4、新一代的Rietveld結(jié)構(gòu)精修軟件及粉末衍射解結(jié)構(gòu)軟件，除了常規(guī)的模擬退火外，還提供*新的電荷反轉(zhuǎn)及三維傅立葉變換，在測量軟件上還提供了可變計(jì)數(shù)時(shí)間模式，以增加高角度信號強(qiáng)度。
6、 在薄膜應(yīng)用上，布魯克的新D8A衍射儀，采用TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)入射及衍射光路上，狹縫到鏡子、狹縫到平行光狹縫的自動(dòng)切換，用戶只需在軟件上通過下拉菜單選擇需要的光學(xué)器件即可，解決了以前需要人工置換，重新對光的麻煩；
7、 在點(diǎn)光源應(yīng)用上（包括微區(qū)、織構(gòu)、應(yīng)力），新D8A采用了TWIST TUBE技術(shù)，用戶可以直接將光管轉(zhuǎn)90度即刻完成點(diǎn)線光源的切換，而無需拆卸光管。 在原位分析應(yīng)用上，新D8A配備了高低溫一體化設(shè)計(jì)，溫度范圍-180oC到+1600oC，高低溫模塊之間的切換只需更換加熱模塊，而無需更換整個(gè)樣品臺(tái)；而且該樣品臺(tái)為高度自動(dòng)可調(diào)樣品臺(tái)，對于不同高度的樣品，均能應(yīng)付自如。
進(jìn)口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE應(yīng)用：
物相定性分析 結(jié)晶度及非晶相含量分析 結(jié)構(gòu)精修及解析 物相定量分析 點(diǎn)陣參數(shù)精 確測量 無標(biāo)樣定量分析 微觀應(yīng)變分析 晶粒尺寸分析 原位分析 殘余應(yīng)力 低角度介孔材料測量 織構(gòu)及ODF分析 薄膜掠入射 薄膜反射率測量 小角散射。
進(jìn)口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE技術(shù)指標(biāo)：
Theta/theta立式測角儀
2Theta角度范圍：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cu靶，標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管
探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
儀器尺寸：1868x1300x1135mm
重量：770kg
功率：6.5kW
